一款芯片從設計到流片再到量產，每個環(huán)節(jié)都需要測試。驗證與測試貫穿整個流程，堪稱責任擔當，但測試方法的繁瑣與高成本經常讓人望而卻步。 在即將舉行的“NI芯片驗證與電子測量技術峰會2021”，AET攜手NI邀請業(yè)內專家專門討論芯片驗證的痛點及解決辦法。您將了解到如何縮短測量周期適應不斷變化的需求、同步多儀器測量程序、復用測量IP，以及如何在整個產品生命周期內快速訪問和解析產品數據。
時間：10月21日13:00-17:00（周四）
地點：上海浦東海科雅樂軒酒店2F華夏廳（地鐵13號線中科路）