在技術高度密集的半導體工業(yè)，幾乎每天都有訴訟故事在上演。有這樣一組統計數據： 從2010到2015與集成電路/半導體相關的訴訟活動數，包括尚未結案的NPE訴訟活動，事實上在集成電路產業(yè)，其訴訟活動數以每年+38%之年復合成長率呈現長期攀升的趨勢。訴訟已經儼然成為大公司打壓競爭對手的一種商業(yè)策略。
為什么半導體領域專利訴訟尤其多？如何從專利訴訟糾紛中脫身？今天我們借助智慧芽全球專利數據庫和分析系統，跟大家一起扒一扒半導體領域專利訴訟那些事兒。
半導體行業(yè)專利訴訟為何這么多？
1）半導體行業(yè)產業(yè)鏈關系復雜
半導體行業(yè)的上下游關系復雜，研發(fā)成果的表現形式也是多樣的，它涉及到工藝制備方法，還包括到各產品本身，如何利用多種形式的知識產權來保護研發(fā)成果，這對企業(yè)研發(fā)和IPR來說都是一個挑戰(zhàn)。其中，專利作為研發(fā)成果的重要保護形式之一，幫助企業(yè)構建自身技術壁壘。在整個產業(yè)鏈各環(huán)節(jié)中，各類不同企業(yè)紛紛利用專利武器，跑馬圈地形成保護屏障，從而展現競爭優(yōu)勢同時在市場中獲利。
數據顯示，在過去10年，全球半導體領域的專利授權數量呈現超過50%的增長幅度。且半導體行業(yè)高度集中，市場相對壟斷，客戶、供應商、加工商交叉著的情況下，專利訴訟糾紛發(fā)生的概率較高。
且在半導體領域專利訴訟呈現訴訟金額高、技術難度高、周期較長、影響面大等特征，一般會有技術鑒定或專家論證，把控手段多。
2）亦正亦邪的NPE緊盯半導體領域
主要營收來自于專利許可或訴訟的NPE們深耕半導體領域。法國專利與技術分析公司KnowMade Co.日前做了分析，自從2013年以來，NPE們已經買下超過2880個與半導體有關的美國專利了，威脅從整合組件制造商（IDM）到半導體委外封裝與測試供貨商（OSAT）的整個半導體供應鏈。尤其一些國外NPE巨頭甚至專利流氓將視線鎖定國內半導體企業(yè)，發(fā)起的專利訴訟案例層出不窮。
KnowMade 專利訴訟風險分析
面臨海外巨頭專利控訴，國內企業(yè)如何化解危機？
利益先得者“以大欺小”，故意在知識產權問題上“找茬”的情況很常見，在半導體行業(yè)這種現象十分普遍。面對海外巨頭的控訴，國內半導體企業(yè)往往處于弱勢地位。
也有一些成功的案例，例如行業(yè)“后來者”——中微半導體設備（上海）有限公司就是個行業(yè)佳話，應對美國行業(yè)巨頭5年侵犯商業(yè)秘密和專利權纏訴，終獲“一撤訴四連勝”，成功化解危機。分析中微半導體在應對訴訟中的表現，以下幾點很值得同行們借鑒：
1)未雨綢繆，專業(yè)IP團隊早早排查潛在風險
中微半導體在成立初期，就組建了專門的IP團隊，在產品前期研發(fā)時就對潛在專利糾紛可能性做大量分析排查，確保每一步研發(fā)進展不會踩上專利“地雷”。
2)見招拆招，積極尋找無效對手專利的證據
2009年美國巨頭科林研發(fā)在臺灣起訴中微半導體侵犯其發(fā)明專利，中微積極主動應對，以事實回應其指控并指出所提出的被侵權的專利根本就是無效的專利。最終判定該專利由于缺乏新穎性和創(chuàng)造性而無效，無法構成指控中微侵權的依據。
在實際操作過程中，像中微一樣面臨海外巨頭起訴能夠全身而退確實不是一件容易的事，完善的IP人員隊伍和體系化的專利管理對于一些小企業(yè)來說負擔太重，其實可以選擇一些便利實用的工具來實現專利預警。
智慧芽團隊一直在探索如何幫助企業(yè)在研發(fā)過程中快速搜集專利情報，避開專利“雷區(qū)”，為技術研發(fā)指明方向。以下幾點實用的小技巧大家不妨實踐下：
1）利用“關鍵詞助手”防漏檢，全面排查潛在專利風險
半導體領域上下游關系復雜，很多企業(yè)在立項時進行專利檢索不全面，“漏檢少檢”的情況時有發(fā)生，直接影響著最終專利信息分析的結果，也為后續(xù)研發(fā)過程帶來了不必要的風險甚至極大危害。
以常見檢索詞“襯底”為例，需要注意上位和下位的概念擴展，例如上位概念“有源”、“源漏”出現在一些重要專利文獻中，可能就會被漏檢。此外，在檢索過程需要搜集它的同義詞、替代詞、英文翻譯等，通常我們會擴展的關鍵詞有“襯底 or Substrate or基板”，但在一些重點技術方案中我們發(fā)現如“基片”之類的詞匯屢屢出現，作為檢索關鍵詞很容易被忽視。
借助智慧芽專利數據庫的高級檢索選項中的“關鍵詞助手”功能，可以幫助解決這一煩惱：輸入“襯底”，系統通過大數據分析自動擴展檢索關鍵詞，包括近似字段及上下位關鍵詞皆有呈現，檢索人員還可將匹配項和排除項進行顏色區(qū)分，以便對選擇的標簽進行再次篩選。
2）結合IPC分類和被引用信息，提早研究對手專利布局
所謂知己知彼，百戰(zhàn)不殆。當難以避免與對手進行交戰(zhàn)時，詳細掌握對方的專利布局情報幫助在訴訟糾紛中搶占上風提供線索。
除了常規(guī)的市場調研和技術研發(fā)分析外，也可以借助專利數據庫中的IPC分類號，查看對手的核心技術分布；同時通過分析企業(yè)被引用次數最多的專利，這些專利體現了對手最核心最關鍵的技術。
例如如下圖為臺積電的IPC分類詳情，及被引用次數最多的專利信息：
3）巧用引用分析，找到對手的專利無效破綻
找到對方漏洞，找出專利無效證據給了訴訟對方致命一擊。智慧芽專利數據庫中有一項功能，可以幫助企業(yè)更高效便捷找到對手的專利無效證據，這便是被行業(yè)研發(fā)和IP人頻繁點贊的“查看引用信息”功能。
數據庫中可快速查詢對手已有專利的引用文獻，包括了撰寫交底書時的備注文獻以及審查員批注的參考文獻。同時，還可通過無限延展檢索，一級引用找不到，可以找二級引用、三級引用，提供目標公司每一條專利的引用和被引用的完整記錄，最終幫助找到無效的證據。
