| 中央处理器安全测试与自修复技术研究 | |
| 所屬分類:技术论文 | |
| 上傳者:aetmagazine | |
| 文檔大小:635 K | |
| 標(biāo)簽: 中央处理器 故障注入 安全测试 | |
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| 文檔介紹:中央处理器在工业控制领域起到重要作用,其正常工作是工业控制中的重要稳定运行保障。主要研究中央处理器的安全测试与自修复相关技术。从故障注入到故障测试再到自修复,对相关安全技术作了比较介绍与分类总结,包括硬软件的故障注入技术、扫描链、内建自测试、TSV等故障测试方法,以及以替代修复和容错自修复技术。最后提出中央处理器安全协同模型,对各个技术的基本原理和创新点做出归纳总结,为未来中央处理器的故障处理技术发展提供安全设计全参考,在保证安全和性能的同时降低成本和能耗,助力工控设备安全稳定运行。 | |
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