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拓展IC封装产品系列，KLA-Tencor推出全新缺陷检测产品
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KLA-Tencor宣布推出Kronos? 1080和ICOS? F160检测系统：拓展IC封装产品系列
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KLA-Tencor发布VoyagerTM 1015和Surfscan® SP7缺陷检测系统： 解决工艺和设备监控中的两个关键挑战
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KLA-Tencor发布VoyagerTM 1015和Surfscan® SP7缺陷检测系统
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全新缺陷检测设备问市，助力最先进的逻辑与存储技术节点
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半导体设备制造商KLA-Tencor宣布以34亿美元收购Orbotech
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KLA-Tencor成功收购Orbotech 增加半导体封装制造机遇
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KLA-Tencor：制程控制在源头 助力客户实现更大生产价值
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半导体前后段制程发展挑战众多材料
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KLA-Tencor公司针对7纳米以下的IC制造推出五款图案成型控制系统
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KLA-Tencor宣布推出针对光学和EUV 空白光罩的 全新FlashScanTM产品线
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KLA-Tencor为尖端集成电路器件技术推出全新量测系统
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KLA-Tencor 快速有效解决客户良率问题
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KLA-Tencor 持续招聘中国优秀人材
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KLA-Tencor 宣布推出新型光罩检测系统
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KLA-Tencor 为领先的集成电路技术推出晶圆全面检测与检查系列产品
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KLA-Tencor 推出晶圆全面检测与检查系列产品
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美国硅谷两大芯片厂商合并 交易超百亿美元
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KLA-Tencor 为先进半导体封装推出新的系列产品
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KLA-Tencor 推出 5D™ 图案成型控制解决方案的关键系统
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KLA-Tencor 推出 2830、Puma 9500 系列和 eDR-5210
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KLA-TENCOR 推出用于测量等离子室效应的 PLASMAVOLT X2
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KLA-TENCOR 将 WPI 技术优势推广到所有光罩类型
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KLA-TENCOR 推出 PROLITHTM 12
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KLA-Tencor推出磁盘驱动器基片和盘片缺陷检查的新技术
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KLA-TENCOR全新控片检测系统SURFSCAN SP2XP出世
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