內(nèi)容簡介：針對多芯粒異構(gòu)復(fù)雜結(jié)構(gòu)采用傳統(tǒng)的功能測試方案無法準(zhǔn)確定位內(nèi)部互連故障，提出一種基于邊界掃描的多芯?；ミB線測試方法，實現(xiàn)對芯粒芯片互連故障的檢測?；贗EEE 1149.1邊界掃描協(xié)議與互連線測試優(yōu)化算法，通過ATE測試系統(tǒng)識別內(nèi)部互連故障線路，從而準(zhǔn)確檢測出芯片故障缺陷。與傳統(tǒng)測試方法相比，基于邊界掃描的多芯?；ミB線測試方法穩(wěn)定可靠，能夠精確定位芯片內(nèi)部互連故障，大幅提高測試效率，保證芯粒系統(tǒng)的可靠性應(yīng)用。