PXI Express測試儀器與實驗芯片相連接的測試平臺
"我們已使用PXI Express自動測試系統(tǒng)完成多個項目，并獲得非常滿意的效果。自動測試系統(tǒng)大大減少了芯片測試的時間，而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富。"
- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec
The Challenge:
創(chuàng)建靈活的測試系統(tǒng)用于自動驗證和表征新的超低功耗半導體芯片設計。
The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數(shù)字I/O設備開發(fā)自動測試系統(tǒng)，前者讀取測試向量，后者產(chǎn)生和接收數(shù)字數(shù)據(jù)，并同時以很高的精度測量芯片設計的直流損耗。
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