便于獲取所有樣本類型的數據

　　JEOL Ltd. （TOKYO:6951）（總裁兼首席運營官：Izumi Oi）于2021年11月宣布開發(fā)并推出新型掃描電子顯微鏡（SEM）——JSM-IT510系列。

　　產品開發(fā)背景

　　掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術、金屬、半導體、陶瓷、醫(yī)學和生物學等各種領域。此外，SEM的應用范圍正在不斷擴大，不僅涉及基礎研究，還涵蓋制造現場的質量控制。因此，對更快、更輕松地獲取SEM圖像和分析結果數據的需求有所增加，例如能量色散X射線光譜（EDS）。

　　為了滿足這些需求并提高產量，我們開發(fā)出JSM-IT510系列，該系列進一步提升了我們備受青睞的InTouchScope?的可操作性。借助新增的Simple SEM（簡便SEM）功能，您現在可以將日常工作（重復性操作）“交給”儀器。

　　主要特性

　　新型“Simple SEM”功能

　　Simple SEM功能使用戶能夠方便地選擇SEM圖像的采集條件和視場角，然后自動采集SEM圖像。日常工作可以更高效地完成。

　　新型“低真空混合二次電子探測器（LHSED）”

　　這種新型探測器可收集電子和光子信號，即使在低真空條件下也能提供具有高信噪比和增強地形信息的圖像。

　　集成掃描電子顯微鏡（SEM）和能量色散X射線光譜儀（EDS）系統。

　　SEM和EDS的集成得到了進一步發(fā)展，Live Map（實時地圖）功能可以實時顯示觀測視場角的元素分布圖。

　　新的“實時3D”功能

　　當進行SEM觀察以獲得非均勻性和深度信息時，可以現場構建3D圖像。

　　實時分析功能

　　嵌入式EDS系統可在圖像觀測期間顯示實時EDS光譜，以實現高效的元素分析。

　　新的階段導航系統LS功能

　　新的階段導航系統LS可以獲得四倍于傳統型號（200 mm x 200 mm）的區(qū)域光學圖像。該功能使用戶能夠獲取觀測樣本的光學圖像，并通過簡單點擊光學圖像移動到所需的觀測區(qū)域。

　　Zeromag

　　使用我們的Zeromag功能，樣本導航比以往任何時候都更簡單。您可以使用光學圖像或支架圖形定位成像區(qū)域或指定多個視場角上的分析位置。

　　顯示特征X射線生成深度

　　有助于快速了解樣本的分析深度（參考）。

　　SMILE VIEW?實驗室，能夠對圖像和分析數據進行綜合管理。

　　便于在短時間內生成從收集的SEM圖像到元素分析結果的所有數據報告。

　　目標銷量

　　200臺/年