一种用于高频S参数的去嵌算法
2023年电子技术应用第1期
纪萍，徐小明，朱国林，季振凯
无锡中微亿芯有限公司，江苏 无锡 214072
摘要： 在S参数的测量过程中，需通过去嵌方法去除测试夹具带来的结果误差。该算法通过时域的方法对夹具进行分解。接着将分解得到的夹具S参数采用ABCD矩阵运算进行去除，从而得到待测器件的S参数。通过设计测试板来进行实验，将该算法与传统的AFR和Delta L方法进行了比较，验证了该去嵌算法对高频信号的有效性以及准确性。同时由于该算法先分解再去嵌的特性，使其可应用于左右夹具不一致的情况。
中圖分類號：TN402
文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222935
中文引用格式： 紀(jì)萍，徐小明，朱國林，等. 一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(1)：130-134.
英文引用格式： Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，et al. A method for de-embedding s-parameter with high-frequency[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(1)：130-134.
文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222935
中文引用格式： 紀(jì)萍，徐小明，朱國林，等. 一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(1)：130-134.
英文引用格式： Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，et al. A method for de-embedding s-parameter with high-frequency[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(1)：130-134.
A method for de-embedding s-parameter with high-frequency
Ji Ping，Xu Xiaoming，Zhu Guoling，Ji Zhenkai
Wuxi East Technologies Inc.， Wuxi 214072， China
Abstract： During the measurement of s-parameters, using the de-embedding method to remove the influence of fixture is important. The proposed method decomposes the s-parameter of fixture by time domains. Then the ABCD matric is used to remove the decomposed fixture and get the s-parameter of device under test. By designing printed circuit board to do some experiments, and compare the proposed method with the other two traditional methods, AFR and Delta L. The results prove that this method is valid and accurate under high-frequency signal. Due to the facture that the algorithm decomposes first and then de-embeds, it can be applied to the situation that the left and right fixture are different.
Key words : s-parameter；de-embedding；high-frequency；ABCD matric
0 引言
隨著高速傳輸信號速率的不斷增高，印制電路板（PCB）的信號完整性研究對整個通信系統(tǒng)的電氣性能來說至關(guān)重要[1]。其中對PCB高速信號質(zhì)量的測量和管控是信號完整性研究中的重要一環(huán)。S參數(shù)是利用頻域來描述高速信號通道特性的一種方式，可通過S參數(shù)提取插入損耗、回波損耗、串?dāng)_等信息來對信號的質(zhì)量進(jìn)行評價(jià)[2]。
在利用儀器對S參數(shù)進(jìn)行測量時，因?yàn)榇郎y器件（DUT）的接口與測試儀器的接口不一致，需要通過夾具進(jìn)行連接，而夾具的存在會影響測試結(jié)果。如何準(zhǔn)確地去除夾具的影響，得到想要的DUT的S參數(shù)是一個值得研究的課題[3]。
本文詳細(xì)內(nèi)容請下載：http://m.ihrv.cn/resource/share/2000005090。
作者信息：
紀(jì)萍，徐小明，朱國林，季振凱
（無錫中微億芯有限公司，江蘇 無錫 214072）
此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng)，未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載。