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【征稿】“2022新能源汽車電子技術(shù)解決方案100例”增刊

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新能源汽車電子

《電子技術(shù)應(yīng)用》擬于2022年12月出版《2022新能源汽車電子技術(shù)解決方案100例》增刊，歡迎相關(guān)領(lǐng)域?qū)＜覍W(xué)者、工程技術(shù)人員、產(chǎn)研機(jī)構(gòu)積極關(guān)注，踴躍投稿！

就等你來！專欄作家招募令

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專欄作家電子技術(shù)應(yīng)用

電子技術(shù)應(yīng)用網(wǎng)決定于2022年6月起招募專欄作家。

【公開課】基礎(chǔ)電子測試測量儀器系列培訓(xùn)

開始時(shí)間：2024-01-10 結(jié)束時(shí)間：2024-01-10

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萬用表示波器信號發(fā)生器頻譜分析儀電源

邀請到上海電子信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院的蔡光躍老師，為大家?guī)硪幌盗谐Ｓ没A(chǔ)電子測試測量儀器使用技巧的講座，希望可以為電子工程師在測試測量工作中避免走彎路，能夠盡快地成長為一名合格的開發(fā)者。

【熱門活動】汽車電容技術(shù)知識有獎問答

開始時(shí)間：2024-01-10 結(jié)束時(shí)間：2024-01-10

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汽車電容電容器冠坤知識問答

電容器是一種儲能元件，在電路中用于調(diào)諧、濾波、耦合、旁路、能量轉(zhuǎn)換和延時(shí)。電容器通常叫做電容。按其結(jié)構(gòu)可分為固定電容器、半可變電容器、可變電容器三種。電容器是非常普及和重要的電子元器件之一，汽車上的電容主要是保護(hù)電瓶和車載電子設(shè)備。為普及汽車電子尤其是電容器元器件知識，并回饋ChinaAET平臺的電子工程師，特開展本次“汽車電容技術(shù)知識有獎問答活動”。活動時(shí)間：5月6日-6月30日

【熱門活動】CITE2022工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展與安全峰會

開始時(shí)間：2024-01-10 結(jié)束時(shí)間：2024-01-10

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CITE2022 工業(yè)互聯(lián)網(wǎng) 工業(yè)數(shù)據(jù)空間治理

【福利活動來襲】AET會員積分活動月

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電子技術(shù)應(yīng)用積分

為了回饋新老用戶的支持，電子技術(shù)應(yīng)用推出積分活動月福利活動，歡迎廣大電子技術(shù)愛好者參與，用網(wǎng)站積分可以兌換眾多福利噢~

【熱門活動】2022中國西部微波射頻技術(shù)研討會

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射頻微波 5G 6G 毫米波 2022中國西部微波射頻技術(shù)研討會

5G毫米波及基站產(chǎn)業(yè)鏈正在蓬勃發(fā)展，射頻與微波技術(shù)在軍工和民用領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛，氮化鎵技術(shù)、陣列天線、太赫茲技術(shù)取得了眾多實(shí)質(zhì)性進(jìn)展；越來越多的企業(yè)開始了6G預(yù)研，處于同樣的毫米波段的兩代技術(shù)是否意味著產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、工藝、材料和相關(guān)測試方面都將順利發(fā)展？“2022中國西部微波射頻技術(shù)研討會”繼續(xù)由《電子技術(shù)應(yīng)用》與中國電子展組委會共同策劃

AET有獎?wù)魑摹心济耖g學(xué)術(shù)大神

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征文

AET本著加強(qiáng)學(xué)術(shù)交流，增加對時(shí)下最新科技新聞的宣傳報(bào)道的目的舉行此次有獎?wù)魑幕顒印?/a>

【熱門活動】FLIR年終新品有獎試用活動開啟！

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FLIR 熱像儀

Teledyne FLIR中國發(fā)布的系列新品，產(chǎn)品應(yīng)用涉及眾多行業(yè)領(lǐng)域，包含高壓電氣設(shè)施局部放電檢測、壓縮空氣泄漏檢測、狀態(tài)監(jiān)控、工藝和質(zhì)量控制、概念驗(yàn)證電子檢測和研發(fā)、電氣機(jī)械建筑診斷等。即刻申請新品免費(fèi)試用，解鎖Teledyne FLIR全新的熱成像或聲學(xué)成像解決方案能給您的工作帶來哪些幫助！

【熱門活動】NI芯片驗(yàn)證與電子測量技術(shù)峰會

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NI 芯片驗(yàn)證電子測量

一款芯片從設(shè)計(jì)到流片再到量產(chǎn)，每個環(huán)節(jié)都需要測試。驗(yàn)證與測試貫穿整個流程，堪稱責(zé)任擔(dān)當(dāng)，但測試方法的繁瑣與高成本經(jīng)常讓人望而卻步。在即將舉行的“NI芯片驗(yàn)證與電子測量技術(shù)峰會2021”，AET攜手NI邀請業(yè)內(nèi)專家專門討論芯片驗(yàn)證的痛點(diǎn)及解決辦法。您將了解到如何縮短測量周期適應(yīng)不斷變化的需求、同步多儀器測量程序、復(fù)用測量IP，以及如何在整個產(chǎn)品生命周期內(nèi)快速訪問和解析產(chǎn)品數(shù)據(jù)。