中规模集成电路功能测试仪的设计
所屬分類：技术论文
上傳者：aet
文檔大?。?span>254 K
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：设计了一款针对学校实验室常用的中规模集成电路芯片的功能测试仪。测试仪的核心AT89C55单片机管理和控制整个测试流程，对测试数据进行处理、判断，并通过LCD、LED显示和指示其测试结果。详细介绍了测试仪的总体设计思路，给出了ADC0809、DAC0832、 LM555、SG3524等芯片的详细测试电路图。
現(xiàn)在下載
VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。