基于隨機(jī)測試的SoC系統(tǒng)級功能驗(yàn)證方法的研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：為了克服RTL級驗(yàn)證方法的局限性，提出了采用隨機(jī)測試向量在SoC的系統(tǒng)級進(jìn)行功能驗(yàn)證的方法。該方法采用高級建模語言來構(gòu)建系統(tǒng)級的測試平臺，采用多種隨機(jī)化機(jī)制來生成測試向量。測試結(jié)果表明,該方法不僅能夠獲得較好的功能覆蓋率，而且能夠盡可能早地發(fā)現(xiàn)SoC設(shè)計(jì)中的功能性錯誤。
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