| 用4200-SCS系统的User Test Module进行实时数据绘图 | |
| 所屬分類(lèi):解决方案 | |
| 上傳者:keithley | |
| 文檔大?。?span>625 K | |
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| 文檔介紹:"4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境(KITE)软件,包含了两种测试模块:互动测试模块(ITM,Interactive TestModule)和用户测试模块(UTM,User Test Modul)。用户可以根据他们的偏爱和所要测试的类型来选择相应类型的模块。ITM提供了一种建立I-V测试的非常方便的方法,而所有要做的只是简单的鼠标移动和 点击。ITM还允许进行实时数据绘图(即边测试边绘图)。另一方面,使用了UTM,用户可以用C语言和所提供的仪表库来编写测试程序。UTM被设计成在对4200-SCS和其他外部仪器进行控制时可以提供最大的灵活性,因而用户几乎可以创建任何所需的测试。" | |
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