《電子技術(shù)應(yīng)用》
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一種DC/DC變換器中差分延遲線ADC的實(shí)現(xiàn)
唐小東,王 曾,甄少
摘要: 文中介紹了一種無需外部時鐘、可抵消部分工藝偏差的差分延遲線ADC,并對其建模。該ADC結(jié)構(gòu)簡單、控制信號在內(nèi)部產(chǎn)生、轉(zhuǎn)換速率快、功耗低,可應(yīng)用在高頻數(shù)字DC/DC控制芯片中。在0.13μmCMOS工藝下仿真表明,在采樣電壓0.7~1.5V范圍內(nèi),該ADC輸出沒有明顯偏移,線性度良好。
Abstract:
Key words :

  傳統(tǒng)的DC/DC變換器一般采用模擬控制方式,它具有體積小,功耗低等優(yōu)點(diǎn),但易受噪聲影響。而數(shù)字控制的DC/DC變換器對工藝參數(shù)和環(huán)境不敏感、控制算法可通過編程實(shí)現(xiàn)、易于集成,且能大大縮短產(chǎn)品的開發(fā)周期。

  1 DC/DC變換器結(jié)構(gòu)

  數(shù)字控制器主要由模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)、數(shù)字補(bǔ)償器(Digital Compensator)和數(shù)字脈沖寬度調(diào)制器(DPWM)組成。一種常用的數(shù)字控制器如圖1所示。主電路輸出電壓與基準(zhǔn)電壓經(jīng)ADC進(jìn)行比較并轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的數(shù)字誤差信號,數(shù)字補(bǔ)償器則根據(jù)誤差進(jìn)行補(bǔ)償?shù)玫浇o定數(shù)字信號。經(jīng)DPWM轉(zhuǎn)換成時間信號,控制主電路開關(guān)通斷。

  

DC/DC變換器結(jié)構(gòu)

 

  2 延遲線ADC

  標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝下一個邏輯門延遲td與電源電壓VDD叻有這樣一個關(guān)系

  

 

  其中,K是一個與器件和工藝有關(guān)的常數(shù),Vth是MOS器件的閾值電壓。當(dāng)VDD大于Vth時,td可看作與VDD成反比。

  延遲線ADC由延遲鏈、寄存器組和譯碼電路組成,結(jié)構(gòu)如圖2所示。一串延遲單元組成延遲鏈。一種可行的延遲單元的結(jié)構(gòu)如圖3所示。它由一個反相器與一個或非門級聯(lián)得到。每個延遲單元都有一個輸入端,一個復(fù)位端和一個輸出端。

  

可行的延遲單元的結(jié)構(gòu)圖

 

  給定一個開始信號AD_Stan,經(jīng)一定時間間隔后產(chǎn)生一個采樣脈沖信號sample,作為D觸發(fā)器的控制信號。在采樣信號有效時對D觸發(fā)器的輸入信號進(jìn)行鎖存,將D觸發(fā)器的輸出信號送至譯碼電路得到最后的誤差信號。圖4是延遲線ADC的時序圖,假設(shè)圖2中n=8。在采樣信號有效時,AD_Start信號正好傳到第5個延遲單元,于是q1~q5輸出為1,q6~q8輸出為0。采樣電壓越大,延遲時間td越小,信號傳播得越快,輸出的溫度計(jì)碼中的1的個數(shù)越多。譯碼電路再將溫度計(jì)碼轉(zhuǎn)換為所需要的二進(jìn)制碼。延遲線ADC即通過輸入電源對延遲鏈供電,根據(jù)延遲鏈延遲時間的大小來確定輸入的大小。

  

3 差分延遲線ADC

 

  3.1 差分延遲線ADC結(jié)構(gòu)分析

  延遲線ADC結(jié)構(gòu)簡單,功耗小,但易受工藝和溫度環(huán)境影響,且采樣信號需外部產(chǎn)生,增加了電路的復(fù)雜性,而且采樣信號的延遲大小會影響ADC量化電平的大小,使得系統(tǒng)輸出不易穩(wěn)定。

  

差分延遲線ADC結(jié)構(gòu)

 

  差分延遲線結(jié)構(gòu)是對延遲線結(jié)構(gòu)的一種改進(jìn),結(jié)構(gòu)圖如圖5所示。差分延遲線ADC由兩條全同的延遲鏈組成,主延遲鏈(Primary delay-line)和參考延遲鏈(Reference delay-line)。參考延遲鏈可經(jīng)主延遲鏈復(fù)制而來。兩條差分延遲鏈共用一個啟動信號AD_Start,使兩條延遲鏈的工作狀態(tài)完全相同。差分延遲鏈的兩個輸入分別是采樣電壓Vsense和基準(zhǔn)。

  電壓Vref,Vsense須小于Vref,根據(jù)電壓越大延遲越小的原理,參考延遲鏈先于主延遲鏈傳播完,將與主延遲鏈相連的D觸發(fā)器打開,對主延遲鏈上的Vsense進(jìn)行采樣。這樣就實(shí)現(xiàn)了將采樣電壓與基準(zhǔn)電壓作比較,再通過譯碼電路得到系統(tǒng)需要的數(shù)字誤差信號。

  差分延遲線ADC的控制信號在內(nèi)部產(chǎn)生,進(jìn)一步簡化了電路結(jié)構(gòu)。采用差分形式輸入,使得采樣電壓和基準(zhǔn)電壓同時受到溫度和工藝偏差的影響,減少主延遲鏈的延時偏差。

  3.2 差分延遲線ADC建模

  設(shè)延遲鏈中的延遲單元個數(shù)為N,延遲時間td是VDD的函數(shù):td=td(VDD),則有

  

 

  即轉(zhuǎn)換時間Tc是分辨率Vq,延遲時間td以及延遲函數(shù)的斜率的函數(shù)。

  

 

  圖6為0.13μm CMOS工藝下單個延遲單元與VDD的關(guān)系曲線。

  4 設(shè)計(jì)方法和仿真結(jié)果

  延遲單元對精度要求較高,采用全定制設(shè)計(jì),而譯碼電路對精度要求較低,采用基于標(biāo)準(zhǔn)庫單元設(shè)計(jì),整體電路使用Hsim進(jìn)行數(shù)模混合仿真。

  

 

  設(shè)計(jì)時,基準(zhǔn)電壓為1.5V,工作頻率是1.5MHz,輸入電壓從0.7~1.5V線性上升,輸出為譯碼后的結(jié)果,即6位數(shù)字信號e。Vsense每增加或減少12.5mV,e增加或減少“1”,但e的最大值是63。圖7為0.13μm CMOS工藝下差分延遲線ADC的輸入輸出曲線,可以看出,差分延遲線ADC的輸出沒有明顯偏移,零輸入對應(yīng)零輸出,線性度良好。

  5 結(jié)束語

  該差分延遲線ADC電路結(jié)構(gòu)簡單,不需要外部電路產(chǎn)生控制信號,可抵消部分工藝偏差。該ADC轉(zhuǎn)換速率很快,功耗低,適合應(yīng)用在高頻數(shù)字DC/DC變換器中。

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