| 2018年第二届电子器件辐射效应国际会议学术论文征集函 | |
| 所屬分類(lèi):教程|讲义 | |
| 上傳者:bjtiger | |
| 文檔大?。?span>505 K | |
| 標(biāo)簽: 抗辐射;radecs | |
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| 文檔介紹:2018年RADECS Workshop暨第二届电子器件辐射效应国际会议,将于5月16日-18日在北京丰大国际酒店举办。会议将包括一系列的特邀报告、论文报告、论文海报和工业展览等,将呈现国际上在电子器件和系统的辐射效应、加固技术、效应评估和相关软硬件产品等方面最新的研究成果。届时,来自世界各国的辐射效应和相关领域的科学家、学者、工程师、项目经理和学生将与会开展交流活动。会议欢迎所有希望了解和分享辐射效应相关领域成果的专家学者参会。有关会议的任何问题,请随时联系会议执行委员会。请浏览大会官方网站(rad2018.chinaaet.com),获取更多信息。 | |
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