Flash存储器单粒子效应测试研究综述
所屬分類：技术论文
上傳者：aetmagazine
文檔大小：561 K
標(biāo)簽： Flash存储器 单粒子效应 测试方法
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文檔介紹：随着Flash存储器在航天系统中的大量应用，其单粒子效应评价至关重要。首先综述了Flash存储器单粒子效应研究进展，总结出在重离子辐照实验中常见单粒子效应及其故障原因，包括由存储单元故障和外围电路故障造成的单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闭锁。随后，归纳出常见单粒子效应的测试区分方法、测试算法和测试流程，为相关测试实验研究提供参考。
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