一种片上嵌入式Flash测试接口的设计
所屬分類：技术论文
上傳者：aetmagazine
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標(biāo)簽： Flash 测试接口 测试速度
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文檔介紹：Flash存储器具有功耗低、存储容量大、体积小等特点,被广泛应用于嵌入式系统。目前Flash存储器多数使用串行接口进行擦写测试，存在着测试效率低、测试成本高等问题。针对以上问题，设计并实现了一种片上嵌入式Flash的测试接口。结合片上嵌入式Flash的接口特点和时序要求，设计了基于多线SPI的测试接口，并在确保稳定性的情况下实现了对多块Flash存储器并行测试的设计，提高了测试速度。通过NCverilog仿真结果表明，该设计有效缩短了测试时间，达到了测试要求，并成功应用于一款32位浮点微处理器中。
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