基于FCM flow的小规模数字电路芯片测试
所屬分類：技术论文
上傳者：zhoubin333
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標(biāo)簽： DFT 覆盖率 Verisium manager
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文檔介紹：随着芯片工艺的不断演进，数字芯片的规模急剧增加，测试成本进一步增加。目前先进的DFT技术已应用于大规模SoC芯片的测试，包括扫描路径设计、JTAG、ATPG（自动测试向量生成）等。但对于一些小规模集成电路，插入扫描链等测试电路会增加芯片面积并增加额外的功耗。对于这种芯片，功能case生成的pattern可用于检测制造缺陷和故障。因此，需要一些方法来验证覆盖率是否达到了目标。Verisium manager工具依靠Xcelium的故障仿真引擎和Jasper功能安全验证应用程序（FSV）可以解决这个问题。它为 ATE（自动测试设备）pattern的覆盖率分析提供了一个新的思路。
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