基于ADS的微系統(tǒng)電源完整性仿真及優(yōu)化 | |
所屬分類:技術論文 | |
上傳者:wwei | |
文檔大?。?span>4441 K | |
標簽: 電源完整性 電源分配網絡 阻抗 | |
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文檔介紹:隨著芯片制造技術和封裝技術的發(fā)展,電子產品內部的器件集成度和信號速度在持續(xù)提高,微系統(tǒng)成為一種新興的形式,這導致了對電源完整性的要求不斷提高。不合理的電源完整性設計將會給電源質量和信號質量帶來極大的干擾,甚至會使系統(tǒng)崩潰。針對所設計的多芯片微系統(tǒng)設計進行了電源完整性的仿真,并利用基板、PCB去耦電容網絡協(xié)同去耦的方式對電源分配網絡阻抗進行了優(yōu)化,解決了微系統(tǒng)內部的空間有限與去耦電容需求量大的矛盾,保證了微系統(tǒng)的電源完整性。 | |
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