基于ATE的千级数量管脚FPGA多芯片同测技术
所屬分類：技术论文
上傳者：wwei
文檔大小：3523 K
標(biāo)簽： 现场可编程门阵列 自动化测试系统 多芯片同测
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文檔介紹：随着超大规模FPGA芯片技术发展，芯片管脚数量提升到1 000以上，如何实现超大规模多引脚FPGA芯片高效测试成为ATE在线测试难点。针对一款千级数量管脚超大规模的FPGA芯片，基于FPGA的可编程特性，采用多芯片有效pin功能并行测试和单芯片全pin电性能参数测试相结合的方法进行ATE测试，实现了千级数量管脚FPGA芯片的4芯片同测，测试效率提升3倍多。
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