基于IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的CJTAG測試設(shè)計方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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標(biāo)簽： CJTAG 測試控制器 邊界掃描
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文檔介紹：在深入研究IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，針對測試問題設(shè)計了CJTAG測試控制器，實現(xiàn)了T0、T1、T3和T4層級的主要功能。對該控制器的各個功能進行了仿真驗證。結(jié)果表明該控制器產(chǎn)生的測試信號符合IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，能夠控制待測芯片實現(xiàn)相應(yīng)的測試功能，取得了較好的測試效果。
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